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  1. Yang, Jian ; Frangi, Alejandro F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Pattern Analysis & Machine Intelligence, Jg. 27 (2005-02-01), Heft 2, S. 230-244
    Online academicJournal
  2. Chakraborty, Rudrasis ; Yang, Liu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Pattern Analysis & Machine Intelligence, Jg. 43 (2021-11-01), Heft 11, S. 3904-3917
    Online academicJournal
  3. Kim, Sang-Woon ; John Oommen, B.
    In: IEEE Transactions on Pattern Analysis & Machine Intelligence, Jg. 27 (2005-03-01), Heft 3, S. 455-460
    Online academicJournal
  4. Kim, Sang-Woon ; Oommen, B. John
    In: IEEE Transactions on Pattern Analysis & Machine Intelligence, Jg. 27 (2005), Heft 1, S. 136-141
    Online academicJournal
  5. Dambreville, Samuel ; Rathi, Yogesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Pattern Analysis & Machine Intelligence, Jg. 30 (2008-08-01), Heft 8, S. 1385-1399
    Online academicJournal
  6. Kwang In Kim ; Franz, Matthias O. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Pattern Analysis & Machine Intelligence, Jg. 27 (2005-09-01), Heft 9, S. 1351-1366
    Online academicJournal
  7. Chin, Tat-Jun ; Suter, David
    In: IEEE Transactions on Pattern Analysis & Machine Intelligence, Jg. 30 (2008-09-01), Heft 9, S. 1547-1556
    Online academicJournal

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