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    Analysis of Temperature in Phase Change Memory Scaling
    Kim, S. ; Wong, H.-S.P.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 28 (2007-08-01), Heft 8, S. 697-699
    Online academicJournal
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    SET to RESET Programming in Phase Change Memories
    Karpov, I.V. ; Kostylev, S.A.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 27 (2006-10-01), Heft 10, S. 808-810
    Online academicJournal
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    Quantum-well infrared phototransistor with pHEMT structure
    Joon Ho Oum ; Uk Hyun Lee ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 26 (2005-08-01), Heft 8, S. 527-529
    Online academicJournal
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