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    Improvement of the tolerated raw bit-error rate in NAND Flash-based SSDs with the help of embedded statistics
    Gherman, Valentin ; Farjallah, Emna ; et al.
    In: 48th International Test Conference ; ITC 2017 - 48th International Test Conference ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01582185 ; ITC 2017 - 48th International Test Conference, Oct 2017, Fort Worth, United States. ⟨10.1109/TEST.2017.8242066⟩ ; http://www.itctestweek.org/welcome-2017-itc/, 2017
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    Improvement of the tolerated raw bit-error rate in NAND Flash-based SSDs with the help of embedded statistics
    Gherman, Valentin ; Farjallah, Emna ; et al.
    In: 48th International Test Conference ; ITC 2017 - 48th International Test Conference ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01582185 ; ITC 2017 - 48th International Test Conference, Oct 2017, Fort Worth, United States. ⟨10.1109/TEST.2017.8242066⟩ ; http://www.itctestweek.org/welcome-2017-itc/, 2017
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    Improvement of the tolerated raw bit-error rate in NAND Flash-based SSDs with the help of embedded statistics
    Gherman, Valentin ; Farjallah, Emna ; et al.
    In: 48th International Test Conference ; ITC 2017 - 48th International Test Conference ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01582185 ; ITC 2017 - 48th International Test Conference, Oct 2017, Fort Worth, United States. ⟨10.1109/TEST.2017.8242066⟩ ; http://www.itctestweek.org/welcome-2017-itc/, 2017
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    Improvement of the tolerated raw bit-error rate in NAND Flash-based SSDs with the help of embedded statistics
    Gherman, Valentin ; Farjallah, Emna ; et al.
    In: 48th International Test Conference ; ITC 2017 - 48th International Test Conference ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01582185 ; ITC 2017 - 48th International Test Conference, Oct 2017, Fort Worth, United States. ⟨10.1109/TEST.2017.8242066⟩ ; http://www.itctestweek.org/welcome-2017-itc/, 2017
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