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    Independent Body-Biasing of P-N Transistors in an 28nm UTBB FD-SOI ULP Near-Threshold Multi-Core Cluster
    Mauro, Alfio Di ; Rossi, Davide ; et al.
    In: 2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2018-10-01, S. 1-3
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    28 FDSOI RF Figures of Merits and Parasitic Elements at Cryogenic Temperature
    Esfehsp, B. Kazemi ; Kilchytska, V. ; et al.
    In: 2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2018-10-01, S. 1-3
    Online Konferenz
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    Insights to the Scaling Impact on Back-Gate Biasing for FD SOI MOSFETs
    Chang, Ming-Yu ; Wang, Li-Jing ; et al.
    In: 2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2018-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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    Optimization of the silicon thickness on Back Enhanced (BE) SOI pMOSFET working as a visible spectrum light sensor
    Padovese, J. A. ; Yojo, L. S. ; et al.
    In: 2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2018-10-01, S. 1-3
    Online Konferenz
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    A new sharp switch device integrated in 28 nm FD-SOI technology
    Bedecarrats, Thomas ; Fenouillet-Beranger, Claire ; et al.
    In: 2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2018-10-01, S. 1-3
    Online Konferenz
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    FinFET-based Monolithic 3D+ with RRAM Array and Computing in Memory SRAM for Intelligent IoT Chip Application
    Li, Kai-Shin ; Hsueh, Fu-Kuo ; et al.
    In: 2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2018-10-01, S. 1-3
    Online Konferenz
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