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    Accelerated Outdoor PID Testing of CIGS Modules and Comparison with Indoor PID Tests
    Sakurai, Keiichiro ; Tomita, Hiroshi ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 1320-1323
    Online Konferenz
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    Characterisation of the Shunt Resistance due to Potential Induced Degradation (PID) in Crystalline Solar Cells
    Florides, Michalis ; Makrides, George ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 695-699
    Online Konferenz
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    Diffusion and Drift of Sodium Ions in PID-affected Mono-Crystalline Silicon Solar Modules
    Yang, Jin ; He, Wenshuang ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 1081-1085
    Online Konferenz
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    Detailed Modeling Recombination in PID-affected N-type Mono-crystalline Silicon Solar Module
    Zhao, Pan ; Ju, Xiaobao ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 462-466
    Online Konferenz
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    Different Recombination in PID-affected Solar Modules from the Field
    Cheng, Xiaoli ; Chen, Chuanke ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 3170-3174
    Online Konferenz
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    Evaluation of the PID-s susceptibility of modules encapsulated in materials of varying resistivity
    Habersberger, Brian M. ; Hacke, Peter ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 3807-3809
    Online Konferenz
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    Prediction of Potential-Induced Degradation Rate of Thin-Film Modules in the Field Based on Coulombs Transferred
    Hacke, Peter ; Johnston, Steve ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 3801-3806
    Online Konferenz
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    PV Systems in Warm and Sunny Climates: Performance Assessment of Commercially Available Solar Photovoltaic Technologies under Different Climatic Conditions in the Brazilian Energy Mix
    do Nascimento, Lucas Rafael ; Braga, Marilia ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 103-108
    Online Konferenz
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    Analysis of Junction Recombination of P-type Single Crystalline Silicon Solar Modules Affected by Potential Induced Degradation under non-STC
    Zhang, Junjun ; Guo, Shuwen ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 790-793
    Online Konferenz
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    The neutral point shift of module string and delamination caused by potential-induced-degradation in 50 MWp photovoltaic power plant
    Li, Hongtao ; Yang, Tianrun ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 731-734
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    Large-Area Material and Junction Damage in c-Si Solar Cells by Potential-Induced Degradation
    Xiao, Chuanxiao ; Jiang, Chun-Sheng ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 3797-3800
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    DSM Innovative Endurance Backsheet Outdoor Validation in Hot and Humid Climate
    Mrcarica, Milica ; Tummers, Peter ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 548-550
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    Evaluation of Optical, Morphological and Structural Properties of MAPI Thin Films Deposited by Co-evaporation
    Reinoso, Miguel Angel ; Gomez, Hebert ; et al.
    In: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018-06-01, S. 2237-2240
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