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    Influence of underlap on UTBB SOI MOSFETs in dynamic threshold mode
    Sasaki, K. R. A. ; Aoulaiche, M. ; et al.
    In: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014-10-01, S. 1-3
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    UTBB FD-SOI front- and back-gate coupling aware random telegraph signal impact analysis on a 6T SRAM
    Akyel, K.C ; Ciampolini, L. ; et al.
    In: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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    Effects of back-gate bias on switched-capacitor DC-DC converters in UTBB FD-SOI
    Turnquist, Matthew J. ; de Streel, Guerric ; et al.
    In: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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    Experimental model of adaptive body biasing for energy efficiency in 28nm UTBB FD-SOI
    Cochet, Martin ; Pelloux-Prayer, Bertrand ; et al.
    In: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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    UTBB/FDSOI: Reasons for a success
    Haond, M.
    In: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014-10-01, S. 1-2
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    28 nm FD SOI Technology Platform RF FoM
    Esfeh, B. Kazemi ; Kilchytska, V. ; et al.
    In: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014-10-01, S. 1-3
    Online Konferenz
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    Mixed-single well 8T SRAM bitcell for wide voltage range in 28nm FDSOI
    Makosiej, Adam ; Planes, N. ; et al.
    In: 2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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