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    Impact of back biasing on the effective mobility in UTBB FDSOI CMOS technology
    Ben-Akkez, I. ; Fenouillet-Beranger, C. ; et al.
    In: 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, Design, Packaging, Simulation and Test International Conference and table Top Exhibition (ISCDG 2013) ; https://hal.science/hal-01078796 ; 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, 2013
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of back biasing on the effective mobility in UTBB FDSOI CMOS technology
    Ben-Akkez, I. ; Fenouillet-Beranger, C. ; et al.
    In: 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, Design, Packaging, Simulation and Test International Conference and table Top Exhibition (ISCDG 2013) ; https://hal.science/hal-01078796 ; 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, 2013
    Konferenz
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    Impact of back biasing on the effective mobility in UTBB FDSOI CMOS technology
    Ben-Akkez, I. ; Fenouillet-Beranger, C. ; et al.
    In: 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, Design, Packaging, Simulation and Test International Conference and table Top Exhibition (ISCDG 2013) ; https://hal.science/hal-01078796 ; 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, 2013
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    Impact of back biasing on the effective mobility in UTBB FDSOI CMOS technology
    Ben-Akkez, I. ; Fenouillet-Beranger, C. ; et al.
    In: 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, Design, Packaging, Simulation and Test International Conference and table Top Exhibition (ISCDG 2013) ; https://hal.science/hal-01078796 ; 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, 2013
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    Impact of back biasing on the effective mobility in UTBB FDSOI CMOS technology
    Ben-Akkez, I. ; Fenouillet-Beranger, C. ; et al.
    In: 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, Design, Packaging, Simulation and Test International Conference and table Top Exhibition (ISCDG 2013) ; https://hal.science/hal-01078796 ; 2013 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble: Technology, 2013
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