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    An intra-cell defect grading tool
    Bosio, Alberto ; Dilillo, Luigi ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An intra-cell defect grading tool
    Bosio, Alberto ; Dilillo, Luigi ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An intra-cell defect grading tool
    Bosio, Alberto ; Dilillo, Luigi ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Test and diagnosis of power switches
    Valka, Miroslav ; Bosio, Alberto ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Path delay test in the presence of multi-aggressor crosstalk, power supply noise and ground bounce
    Asokan, Anu ; Todri-Sanial, Aida ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Timing-aware ATPG for critical paths with multiple TSVs
    Momo Metzler, Carolina ; Todri-Sanial, Aida ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Test and diagnosis of power switches
    Valka, Miroslav ; Bosio, Alberto ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Path delay test in the presence of multi-aggressor crosstalk, power supply noise and ground bounce
    Asokan, Anu ; Todri-Sanial, Aida ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Timing-aware ATPG for critical paths with multiple TSVs
    Momo Metzler, Carolina ; Todri-Sanial, Aida ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Test and diagnosis of power switches
    Valka, Miroslav ; Bosio, Alberto ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Path delay test in the presence of multi-aggressor crosstalk, power supply noise and ground bounce
    Asokan, Anu ; Todri-Sanial, Aida ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Timing-aware ATPG for critical paths with multiple TSVs
    Momo Metzler, Carolina ; Todri-Sanial, Aida ; et al.
    In: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?

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