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    Tid för abduktion: Erfarenhetens bärkraft i forskning och utbildning för framtiden.
    Balldin, Jutta
    In: Research & Change / Forskning & Forandring, Jg. 6 (2023), Heft 1, S. 22-40
    Online academicJournal
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    Basra Şehrinin Kurucusu Utbe b. Gazvân’ın Hayatı ve Faaliyetleri.
    USLUER, Mehmet
    In: Islami Ilimler Dergisi, Jg. 16 (2021-11-01), Heft 2, S. 127-148
    academicJournal
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    Investigation of Self-Heating Effects in UTBB FD-SOI MOSFETs by a Modified Thermal Conductivity Model.
    Xing, Qian ; Su, Yali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4129-4137
    Online academicJournal
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    Impact of Aging Degradation on Heavy-Ion SEU Response of 28-nm UTBB FD-SOI Technology.
    Mounir Mahmoud, M. ; Prinzie, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 1865-1875
    Online academicJournal
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    En svensk utblick på nordisk bibliotekshistoria.
    Lindberg, Jenny
    In: Nordic Journal of Library & Information Studies, Jg. 4 (2023), Heft 1, S. 66-74
    Online academicJournal
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    Evolution of the Larvicidal Effects of Secondary Metabolites Produced by Bacillus subtilis (Ehrenberg, 1835) Cohn, 1872 Wild Type UTB1 and Mutant M419 against Plutella xylostella (L., 1758) (Lep.: Plutellidae).
    TAJDINI, Moozhan ; OSOULI, Shiva ; et al.
    In: Journal of the Entomological Research Society, Jg. 24 (2022-09-01), Heft 3, S. 257-268
    academicJournal
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    Characteristics of 22 nm UTBB-FDSOI technology with an ultra-wide temperature range.
    Wang, Hanbin ; Bi, Jinshun ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 37 (2022-10-01), Heft 10, S. 1-8
    Online academicJournal
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    Behavior and interactions of the plant growth-promoting bacteria Azospirillum oryzae NBT506 and Bacillus velezensis UTB96 in a co-culture system.
    Bagheri, Negar ; Ahmadzadeh, Masoud ; et al.
    In: World Journal of Microbiology & Biotechnology, Jg. 38 (2022-06-01), Heft 6, S. 1-12
    Online academicJournal
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    Effects of sidewall spacer layers on thermal and low frequency noise performance of SOI UTB MOSFETs.
    Bhattacherjee, Swagata ; Biswas, Abhijit
    In: Microsystem Technologies, Jg. 28 (2022-03-01), Heft 3, S. 653-658
    Online academicJournal
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    The Modulation Effect of LPCVD-Si x N y Stoichiometry on 2-DEG Characteristic of UTB AlGaN/GaN Heterostructure.
    Zhu, Liyang ; Zhou, Qi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-09-01), Heft 9, S. 4828-4834
    Online academicJournal
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    Layout-Induced Strain Study for RF Performance Improvement of 22-nm UTBB FDSOI PFET.
    Sloyan, Karen ; Ravaux, Florent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3230-3237
    Online academicJournal
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    Influence of Supply Voltage and Body Biasing on Single-Event Upsets and Single-Event Transients in UTBB FD-SOI.
    de Boissac, Capucine Lecat-Mathieu ; Abouzeid, Fady ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 850-856
    Online academicJournal
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    Development and evaluation of an Urdu treebank (CLE-UTB) and a statistical parser.
    Ehsan, Toqeer ; Hussain, Sarmad
    In: Language Resources & Evaluation, Jg. 55 (2021-06-01), Heft 2, S. 287-326
    Online academicJournal
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    Effects of Scaling on Analog FoMs of UTBB FD-SOI MOS Transistors: A Detailed Analysis.
    Bhoir, Mandar S. ; Mohapatra, Nihar R.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), Heft 8, S. 3035-3041
    Online academicJournal
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    Use of spectral decomposition in identifying stratigraphic baffles below seismic resolution; A case study of UTB field, offshore Niger Delta.
    Durogbitan, Abimbola ; Simon, Eyogwe ; et al.
    In: Journal of Applied Geophysics, Jg. 217 (2023-10-01), S. N.PAG
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    Photoelectric Characteristic Evaluation of Different Structured UTBB MOSFETs.
    Liu, Liqiao ; Chen, Wangyong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-05-01), Heft 5, S. 1919-1923
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    Julia E. Beelitz, Jonas Pfister: Tourismusphilosophie 2023, utb aus dem UVK Verlag ISBN 978-3-8252-5911-2.
    Baumgartner, Christian
    In: TW: Zeitschrift fuer Tourismuswissenschaft, Jg. 15 (2023-08-01), Heft 2, S. 228-229
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    Volltext (PDF)
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    Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology.
    Cai, Chang ; Chen, Gengsheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 374-381
    Online academicJournal
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    Estimation of Muon-Induced SEU Rates for 65-nm Bulk and UTBB-SOI SRAMs.
    Manabe, Seiya ; Watanabe, Yukinobu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), Heft 7, S. 1398-1403
    Online academicJournal
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    Robust semiconductor-on-ferroelectric structures with hafnia–zirconia–alumina UTBOX stacks compatible with CMOS technology.
    Popov, V P ; Antonov, V A ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 54 (2021-06-03), Heft 22, S. 1-8
    Online academicJournal
    Zugriff:
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